XRD全稱X射線衍射（X-Ray Diffraction）, 是一種分析技術(shù)。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜，利用譜圖信息可以得到晶體材料的體相結(jié)構(gòu)信息。是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法。

X射線衍射儀因其無損樣品、無污染、快速、精度高等優(yōu)點，已被廣泛應(yīng)用于材料研究表征和質(zhì)量控制。在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、食品化妝品、塑料、陶瓷乃至考古、商檢等眾多學科和行業(yè)中都有廣泛的應(yīng)用。

各行業(yè)針對X 射線衍射技術(shù)主要應(yīng)用有以下幾方面：樣品的物相定性或定量分析，晶體結(jié)構(gòu)分析，材料的織構(gòu)分析，宏觀應(yīng)力的測定，晶粒大小測定，結(jié)晶度測定等。

意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。

可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價比高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，以及基于XRD在工業(yè)及冶金行業(yè)應(yīng)用而專門研發(fā)的X射線殘余應(yīng)力分析儀STRESS-X、殘余奧氏體分析儀AREX-D等多種型號。而全反射X熒光光譜儀（TXRF）的檢測限已達到皮克級別，其非破壞性分析特點應(yīng)用在痕量元素分析中，涉及環(huán)境、醫(yī)藥、半導體、核工業(yè)、石油化工等行業(yè)。